Типовые услуги, их стоимость, используемые методы и оборудование

Для заказа исследований загрузить бланки заявок и проект договора.

1. 1 Исследование микроструктуры образцов из стали и сплавов. Приготовление металлографического шлифа и травление для выявления микроструктуры и морфологии неметаллических включений, карбидной или интерметаллидной фаз.

   Описание работы:

   1. Исследование микроструктуры при увеличениях от 20 до 10000 крат методом растровой электронной микроскопии.
   2. Определение величины зерна, загрязненности неметаллическими включениями, определение типа неметаллических включений.
   3. Анализ соответствия микроструктуры требованиям ГОСТ.

   Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный SPD детектором и возможностью исследования в режимах Z-contrast, SEI, BEI, AEI.

   Стоимость: 15000-37500 руб. за 1 исследование.

2. 2 Анализ причин разрушения металлических конструкций и изделий комплексным исследованием микроструктуры стали или сплава, морфологии защитных покрытий, коррозионных, усталостных или иных повреждений.

   Описание работы:

   1. Вырезка образцов.
   2. Изготовление металлографических шлифов.
   3. Исследование микроструктуры поперечных сечений, морфологии поверхности, фрактографическое исследование зон разрушения или деградации.

   Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM35С японской фирмы JEOL.

   Стоимость: 37500-40000 руб. за 1 исследование.

3. 3 Разрушение образцов «in situ» в растровом электронном микроскопе для изучения микромеханизма разрушения.

   Описание работы:

   1. Изготовление специальных образцов с надрезом с эл. полированной или травленной поверхностью.
   2. Плавное механическое нагружение растяжением с постадийной съемкой изображений при малых и высоких увеличениях с анализом зон локализации деформаций.

   Прибор: Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный приставкой для растяжения образцов в колоне микроскопа.

   Стоимость: 45000 руб. за 1 исследование.

4. 4 Электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS).

   Описание работы:

   1. Определение химического состава поверхности и тонких пленок.
   2. Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.
   3. Определение фазового состава.
   4. Исследование валентной зоны.
   5. Исследование энергии экстра-атомной релаксации и других тонких электронных взаимодействий в химических соединениях, включениях, квантовых точках, нанокристаллах.

   Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Монохроматизированное Al K-альфа излучение, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

   Стоимость: 45000-55000 руб. за 1 исследование.

5. 5 Спектроскопия Оже-электронов.

   Описание работы:

   1. Определение химического состава поверхности и тонких пленок.
   2. Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.
   3. Исследование неоднородности распределения химических элементов по направлению при изучении ликвации или микросегрегаций.
   4. Построение диаграмм многокомпонентной сегрегации химических элементов при нагреве образцов до 600°С.
   5. Оже-микроскопия.

   Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

   Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.

6. 6 Вибрационная электронная спектроскопия (HREELS).

   Описание работы: Анализ адсорбированных молекул, анализ фононных и плазмонных возбуждений, энергий межзонных и внутризонных переходов в полупроводниках и диэлектриках.

   Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.0025 эВ). Электронный источник медленных электронов EMU50 с монохроматизацией энергии первичных электронов (17 мэВ) от 0 до 100 эВ , температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

   Стоимость: 55000 руб. за 1 исследование.

7. 7 Исследование атомной структуры поверхности по спектрам потери энергии электронов (EELFS).

   Описание работы: Получение и Фурье-анализ протяженной тонкой структуры спектров потери энергии электронов с построением обобщенной и локальной функции радиального распределения.

   Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

   Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.

8. 8 Плазмонная электронная микроскопия.

   Описание работы: Картины линейного и пространственного распределения плазмонных возбуждений под действием электронного сканирующего излучения.

   Прибор:

   1. Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.
   2. Применение уникальной компьютерной программы управления спектрометром и анализом изображений.

   Стоимость: 55000-65000 руб. за 1 исследование.

9. 9 Определение следовых содержаний химических элементов, от водорода и до 15 000 а.е.м. методом масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS).

   Описание работы: Спектры масс положительных и отрицательных вторичных ионов, усреднённый состав и карты распределения по поверхности.

   Прибор: Времяпролётный масс-спектрометр TOF.SIMS5 (IONTOF GmbH, Германия). Сканирующий источник ионов висмута (пятно диаметром 25 нм), разрешение при глубинном профилировании 1 нм, температуры -196 до 550 °С.

   Стоимость: от 65000 руб. за 1 исследование.

10. 10 Анализ поверхности разрушения при получении излома в глубоком вакууме 10^-8 Па при -70 °С.

    Описание работы: XPS, AES, SIMS.

    Прибор: Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии, разрешение 0.05 эВ). Различные источники возбуждения сигнала. Температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

    Стоимость: 45000-55000 руб. за 1 исследование.

11. 11 Дифференциальный термический анализ.

    Описание работы: Определение тепловых эффектов, сопровождающих структурные или фазовые превращения.

    Прибор: Микроанализатор ATD M4 французской фирмы SETARAM. Температуры 196 – 1600 °С.

    Стоимость: 55000 руб. за 1 исследование.

Для заказа физических исследований выбранными Вами методами заполните и пришлите Бланк заказа и Договор.