• Система управления спектрометром и регистрации спектра
  • Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС, XPS)
  • Оже-спектроскопия и сканирующая Оже-микроскопия (ОЭС, ОЭМ, AES, AEM)
  • Спектроскопия и микроскопия плазмонных потерь
  • Спектроскопия потерь энергии медленных электронов высокого разрешения (СПЭЭВР, HREELS)
  • Масс-спектроскопия вторичных ионов (МСВИ, SIMS)

Обновлённая система управления спектрометром и регистрации спектра Spectrum v.2.0

Программа предназначена для управления электронными спектрометрами через интерфейсную плату Егора Тихонова и является глубокой модернизацией его программы Spectrum с существенным расширением возможностей, предоставляемых электроникой спектрометра ESCALAB Mk2 и аналогичных.

Основные изменения:

Setup Experiment

  • Изменён набор источников сигнала:
    • XPS - с возможностью выбора записи в кинетических энергиях (KE) или энергиях связи (BE)
    • Сканирующая Оже-пушка LEG200 с регистрацией спектров кинетических энергий электронов в режимах N(E) или dN/dE
    • Источник монохроматических медленных электронов EMU50 может формировать сигнал в режиме стандартного (шаг 0.05 эВ) или высокого (шаг 0.0025 эВ) разрешения анализатора. Этот же режим может использоваться при использовании ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (УФС, UPS)
    • Масс-спектроскопия вторичных ионов с источником – сканирующей аргоновой пушкой AG61 и масс-спектрометром SQ300
  • В зависимости от выбранного режима анализатора CAE/CRR индицируется выбираемое значение Pass energy/Retard ratio
  • Добавлен калькулятор времени эксперимента

Окно Setup Experiment

Spectrum

  • Уточнена логика взаимодействия программы с оборудованием, устранены ошибки выставления энергии анализируемых электронов
  • Для уменьшения общего времени эксперимента и потерь времени на релаксацию электроники запись спектров идёт в двух направлениях: нечётные сканы — с возрастанием энергии, а чётные — с уменьшением
  • Добавлен режим Adjustment установки оптимального положения образца по максимуму характеристической линии
  • При использовании источника LEG200 с регистрацией спектров в интегральной или дифференциальной форме возможно программирование Imaging выбором энергий съёмки изображений или переход непосредственно в окно Imaging с текущими установками параметров съёмки.

Главное окно Spectrum

Imaging и LineScan

Это принципиально новые функции программы, использующие возможности штатных блоков ESCALAB Mk2.

Помимо съёмки распределений интенсивностей электронов по площади или вдоль заданной линии сканирования, предусмотрены простейшие операции обработки данных:

  • Разность интенсивностей в одинаковых точках при разных энергиях Icorr = I2 – I1 для анализа размаха дифференцированного Оже-сигнала заданного элемента в разных точках
  • Компенсация топографического контраста для изображений, снятых в режиме N(E) Icorr = (P – B)/B
  • Нормализация интенсивностей вторичных характеристических пиков, например, пика плазмонных потерь, на интенсивность первичного пика Icorr = Ipl/IEl

Окно Imaging

На изображении, полученном в Imaging, можно определить линию для анализа интенсивностей характеристических пиков вдоль неё с высоким разрешением, а также выбрать интересующие точки для регистрации спектров и проведения количественного Оже-анализа.

Пограммирование LineScan Окно LineScan