Услуги, предоставляемые ОИ «Лабораторией исследований поверхности» Научно-технического внедренческого предприятия «Поверхность».

Для заказа исследований загрузить бланки заявок и проект договора.

Стоимость предоставляемых услуг.

Полное наименование услуги Ед. измерения Краткое описание услуги Тип прибора Стоимость услуги, руб.
1

Исследование микроструктуры образцов из стали, сплавов + приготовление металлографического шлифа и травление для выявления микроструктуры и морфологии неметаллических включений, карбидной или интерметаллидной фаз.

1 исследование

Исследование микроструктуры при увеличениях от 20 до 10000 крат методом растровой электронной микроскопии. Определение величины зерна, загрязненности неметаллическими включениями, определение типа неметаллических включений. Анализ соответствия микроструктуры требованиям ГОСТ.

Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный SPD детектором и возможностью исследования в режимах Z-contrast, SEI, BEI, AEI.

15000-37500
2

Анализ причин разрушения металлических конструкций и изделий комплексным исследованием микроструктуры стали или сплава, морфологии защитных покрытий, коррозионных, усталостных или иных повреждений.

1 исследование

Вырезка образцов. Изготовление металлографических шлифов. Исследование микроструктуры поперечных сечений, морфологии поверхности, фрактографическое исследование зон разрушения или деградации.

Растровый электронный микроскоп JSM35С японской фирмы JEOL.

37500-40000
3

Разрушение образцов «in situ» в растровом электронном микроскопе для изучения микромеханизма разрушения.

1 исследование

Изготовление специальных образцов с надрезом с эл. полированной или травленной поверхностью, плавное механическое нагружение растяжением с постадийной съемкой изображений при малых и высоких увеличениях с анализом зон локализации деформаций.

Растровый электронный микроскоп JSM 35С японской фирмы JEOL, снабженный приставкой для растяжения образцов в колоне микроскопа.

45000
4

Электронная спектроскопия для химического анализа (ESCA), рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS)

1 исследование

Определение химического состава поверхности и тонких пленок.

Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.

Определение фазового состава.

Исследование валентной зоны.

Исследование энергии экстра-атомной релаксации и других тонких электронных взаимодействий в химических соединениях, включениях, квантовых точках, нанокристаллах.

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Монохроматизированное Al K-альфа излучение, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

45000-55000
5

Спектроскопия Оже-электронов.

1 исследование

Определение химического состава поверхности и тонких пленок.

Определение распределения химических элементов по глубине с использованием ионного травления.

Исследование неоднородности распределения химических элементов по направлению при изучении ликвации или микросегрегаций.

Построение диаграмм многокомпонентной сегрегации химических элементов при нагреве образцов до 600 °С.

Оже-микроскопия.

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

55000-65000
6

Вибрационная электронная спектроскопия (HREELS).

1 исследование

Анализ адсорбированных молекул, анализ фононных и плазмонных возбуждений.

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.0025 эВ). Электронный источник медленных электронов EMU50 с монохроматизацией энергии первичных электронов (17 мэВ) от 0 до 100 эВ , температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

55000
7

Исследование атомной структуры поверхности по спектрам потери энергии электронов (EELFS).

1 исследование

Получение и Фурье-анализ протяженной тонкой структуры спектров потери энергии электронов с построением обобщенной и локальной функции радиального распределения.

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

55000-65000
8

Плазмонная электронная микроскопия.

1 исследование

Картины линейного и пространственного распределения плазмонных возбуждений од действием электронной бомбардировки.

Применение уникальной компьютерной программы управления спектрометром и анализом изображений. Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Электронная сканирующая пушка LEG200, температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

55000-65000
9

Определение следовых содержаний химических элементов, от водорода и до 300 атомных масс методом масс-спектроскопии вторичных ионов (SIMS).

1 исследование

Спектры масс положительных и отрицательных вторичных ионов.

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG. Сканирующий источник ионов аргона (пятно диаметром 0.5 мм), масс-спектрометр квадрупольного типа SQ300 (0 — 300 аем, разрешение 0,07 аем), температуры -196 до 550 °С.

55000-65000
10

Анализ поверхности разрушения при получении излома в глубоком вакууме 10-18 Па при -70 °С.

1 исследование

XPS, AES, SIMS

Электронный спектрометр ESCALAB MK2 английской фирмы VG (полусферический анализатор энергии. разрешение 0.05 эВ). Различные источники возбуждения сигнала. Температуры -196 до 550 °С, ионное травление.

45000-55000
11

Дифференциальный термический анализ.

1 исследование

Определение тепловых эффектов, сопровождающих структурные или фазовые превращения.

Микроанализатор ATD M4 французской фирмы SETARAM Температуры 196 – 1600 °С.

55000